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Ein einfaches Maß für den Informationsgehalt von Meßsystemen

Beyerer, Jürgen; Traechtler, Ansgar

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen-ID: 292797
Erschienen in tm - Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 64
Heft 10
Seiten 401 - 407

Seitenaufrufe: 46
seit 14.05.2018
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