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Goodness-of-fit tests based on a new characterization of the exponentional distribution

Henze, Norbert; Meintanis, Simos G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Mathematik – Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0361-0926
KITopen-ID: 29792002
Erschienen in Communications in statistics- Theory and methods
Verlag Taylor and Francis
Band 31
Heft 9
Seiten 1479-1497
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