Goodness-of-fit tests based on a new characterization of the exponentional distribution
Henze, Norbert
; Meintanis, Simos G.
; Meintanis, Simos G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Mathematik – Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0361-0926 KITopen-ID: 29792002 |
| Erschienen in | Communications in statistics- Theory and methods |
| Verlag | Taylor and Francis |
| Band | 31 |
| Heft | 9 |
| Seiten | 1479-1497 |