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Goodness-of-fit tests for the exponential distribution based on the empirical Laplace transform

Henze, Norbert; Meintanis, Simos G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Mathematik – Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0233-1888
KITopen-ID: 29802002
Erschienen in Statistics
Verlag Taylor and Francis
Band 36
Heft 2
Seiten 147-161
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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