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Relationship of track diameter and etching procedure

Becker, F.; Zhang, G.; Köhler, B.; Maier, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 300084907
HGF-Programm 43.14.03; LK 01
Seiten 34-37
Erscheinungsvermerk Jahresbericht 2010 Institut für Strahlenforschung. KIT Scientific Reports, KIT-SR 7587 (Juli 2011)
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