Relationship of track diameter and etching procedure
Becker, F.
; Zhang, G.; Köhler, B.; Maier, S.
; Zhang, G.; Köhler, B.; Maier, S.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 300084907 |
| HGF-Programm | 43.14.03 (POF II, LK 01) System integration |
| Seiten | 34-37 |
| Erscheinungsvermerk | Jahresbericht 2010 Institut für Strahlenforschung. KIT Scientific Reports, KIT-SR 7587 (Juli 2011) |