KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Hierarchische Testmustergenerierung fuer sequentielle Schaltungen mit Hilfe temporaler Logik

Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 300790
Erscheinungsvermerk In: 2. ITG/GI Workshop "Testmethoden und Zuverlaessigkeit von Schaltungen und Systemen", Gut Ising am Chiemsee 1990.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page