Hierarchische Testmustergenerierung fuer sequentielle Schaltungen mit Hilfe temporaler Logik
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 300790 |
| Erscheinungsvermerk | In: 2. ITG/GI Workshop "Testmethoden und Zuverlaessigkeit von Schaltungen und Systemen", Gut Ising am Chiemsee 1990. |