Measurements of the piezoelectricity of films with scanning tunneling microscopy

Winters, Rainer; Reinermann, Michael; Enss, Christian; Weiss, Georg; Hunklinger, Siegfried

Zugehörige Institution(en) am KIT	Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 301395
Erscheinungsvermerk	J. of vac. sci. and technol. B 13 (1995) S. 1316-1319.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 96S124

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