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Measurements of the piezoelectricity of films with scanning tunneling microscopy

Winters, Rainer; Reinermann, Michael; Enss, Christian; Weiss, Georg; Hunklinger, Siegfried


Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 301395
Erscheinungsvermerk J. of vac. sci. and technol. B 13 (1995) S. 1316-1319.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 96S124
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