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Automatic recognition of product models from technical drawings

Grabowski, Hans; Rude, Stefan; Liu, Baoyuan



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechneranwendung in Planung und Konstruktion (PRK)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 303494
Erscheinungsvermerk In: International Conference on Feature Modeling and Recognition in Advanced CAD/CAM- Systems, Valenciennes, France 1994. IFIP.
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