Conductivity of heavily doped Si:P under uniaxial stress

Waffenschmidt, Sybille; Loehneysen, Hilbert v.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 30582000
Erscheinungsvermerk	Ann. d. Phys. 9 (2000) S. 75-82.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 2001S98