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Conductivity of heavily doped Si:P under uniaxial stress

Waffenschmidt, Sybille; Loehneysen, Hilbert v.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 30582000
Erscheinungsvermerk Ann. d. Phys. 9 (2000) S. 75-82.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 2001S98
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