Thin film reference samples for micro XRF

Simon, R.; Falkenberg, G.; Dietsch, R.; Fittschen, U.; Weissbach, D.

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seit 20.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr	2008
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 310073840
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	ANKA - Annual report 2008 Karlsruhe : Forschungszentrum Karlsruhe GmbH