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Adaptive Prüfzelle zur Inline-Qualitätsüberwachung von 3D-Innen- und Außenprofilen, Oberflächen sowie Montagevollständigkeit an hybriden Mikrosystemen - μPrüfzelle

Bretthauer, G.; Köhler, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 310077416
HGF-Programm 43.01.04 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Schlussbericht zum Teilvorhaben 'Bildverarbeitungssystem', im Rahmen des Förderprogramms Mikrosysteme 2004-2009 des BMBF Hannover : TIB, 2009 Publ.online
Externe Relationen Siehe auch
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