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Layoutabhängige formale Verifikation von MOS-Transistorschaltungen durch Model-Checking

Froessl, Jürgen; Kropf, Thomas


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 311695
Erscheinungsvermerk In: 40. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, Technische Universität Ilmenau 1995. Ilmenau 1995.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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