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Verifying real-time properties of MOS-transistor circuits

Froessl, Jürgen; Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 311795
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. The European Design and Test Conference ED & TC 1995, Paris, France. Los Alamitos, Calif. 1995. S. 314-319.
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