KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Verifying real-time properties of MOS-transistor circuits

Froessl, Jürgen; Kropf, Thomas


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 311795
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. The European Design and Test Conference ED & TC 1995, Paris, France. Los Alamitos, Calif. 1995. S. 314-319.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page