Verifying real-time properties of MOS-transistor circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 311795 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. The European Design and Test Conference ED & TC 1995, Paris, France. Los Alamitos, Calif. 1995. S. 314-319. |