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A hierarchical self test methodology for chips, boards and systems

Haberl, Oliver; Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 312195
Erscheinungsvermerk J. of electron. test. 6 (1995) S. 85-106.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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