A hierarchical self test methodology for chips, boards and systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 312195 |
| Erscheinungsvermerk | J. of electron. test. 6 (1995) S. 85-106. |