KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Verfahren zur optimierten Auswahl, Entwicklung und Datenanalyse von Teststrukturen in Backend-Prozeßschritten

Hess, Christopher; Stroele, Albrecht P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 313595
Erscheinungsvermerk In: Mikroelektronik. Vorträge der GME- Fachtagung, Baden-Baden 1995. Berlin 1995. S. 45-53.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page