Verfahren zur optimierten Auswahl, Entwicklung und Datenanalyse von Teststrukturen in Backend-Prozeßschritten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 313595 |
| Erscheinungsvermerk | In: Mikroelektronik. Vorträge der GME- Fachtagung, Baden-Baden 1995. Berlin 1995. S. 45-53. |