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A versatile BIST technique combining test registers and accumulators

Stroele, Albrecht; Mayer, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 31432000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the International Conference on VLSI Design, VLSI Design 2000, Calcutta, India 2000. S. 412-415.
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