A versatile BIST technique combining test registers and accumulators
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 31432000 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the International Conference on VLSI Design, VLSI Design 2000, Calcutta, India 2000. S. 412-415. |