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Self-test of sequential circuits with deterministic test pattern sequences

Kunzmann, Arno; Böhland, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 314394
Erscheinungsvermerk J. of. electron. testing 5 (1994) S. 307-312.
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