A self-test approach using accumulators as test pattern generators
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 314595 |
| Erscheinungsvermerk | In: 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS'95, Seattle, Wash. 1995. Vol. 3. Piscataway, NJ 1995. S. 2120-2123. |