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A self-test approach using accumulators as test pattern generators

Stroele, Albrecht P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 314595
Erscheinungsvermerk In: 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS'95, Seattle, Wash. 1995. Vol. 3. Piscataway, NJ 1995. S. 2120-2123.
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