Multiple-beam X-ray diffraction for physical determination of reflection phases and its applications
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 316697 |
| Erscheinungsvermerk | Acta crystallographica A 53 (1997) S. 108-143. |