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Applicability limits of software reliability growth models

Pasquini, Alberto; Felici, M.; Sujan, Mark Alexander



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 31692000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 2nd Conference on Mathematical Models in Reliability, Bordeaux, France 2000. S. 397-400.
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