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Single-crystal X-ray diffractometry using synchrotron radiation

Eichhorn, Klaus



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seit 14.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 316997
Erscheinungsvermerk Eur. j. of mineral. 9 (1997) S. 673-692.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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