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Single-crystal X-ray diffractometry using synchrotron radiation

Eichhorn, Klaus


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 316997
Erscheinungsvermerk Eur. j. of mineral. 9 (1997) S. 673-692.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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