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Scheduling tests for low power built-in self-test

Schuele, Tobias; Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 31752001
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2001, Sydney, Australia 2001. S. 247-250.
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