Scheduling tests for low power built-in self-test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 31752001 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2001, Sydney, Australia 2001. S. 247-250. |