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Programmable embedded self-testing checkers for all-unidirectional error-detecting codes

Stroele, Albrecht; Tarnick, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 319399
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. IEEE VLSI Test Symposium, Dana Point, USA 1999. S. 361-369.
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