Programmable embedded self-testing checkers for all-unidirectional error-detecting codes
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 319399 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. IEEE VLSI Test Symposium, Dana Point, USA 1999. S. 361-369. |