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Empirical interval estimates for the defect content after an inspection

Padberg, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 32072002
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 24th International Conference on Software Engineering, ICSE 2002, Orlando, FL 2002. New York : Association for Computing Machinery 2002. S. 58-68.
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