Empirical interval estimates for the defect content after an inspection
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 32072002 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 24th International Conference on Software Engineering, ICSE 2002, Orlando, FL 2002. New York : Association for Computing Machinery 2002. S. 58-68. |