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Empirical interval estimates for the defect content after an inspection

Padberg, Frank


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 32072002
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 24th International Conference on Software Engineering, ICSE 2002, Orlando, FL 2002. New York : Association for Computing Machinery 2002. S. 58-68.
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