Optimierung von Testkosten und Produktqualität unter Verwendung von Fehlerwahrscheinlichkeiten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 32094 |
| Erscheinungsvermerk | In: Entwurf integrierter Schaltungen. Hrsg.: R. Camposano. Sankt Augustin 1994. S. 265-268. (GMD-Studien. 227.) |