Test scheduling for minimal energy consumption under power constraints
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 32122001 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 19th IEEE VLSI Test Symposium: Test and Diagnosis in a Nanometric World, Marina del Rey, CA 2001. S. 312-318. |