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Test scheduling for minimal energy consumption under power constraints

Schuele, Tobias; Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 32122001
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 19th IEEE VLSI Test Symposium: Test and Diagnosis in a Nanometric World, Marina del Rey, CA 2001. S. 312-318.
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