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Signature analysis for test responses of sequential circuits

Stroele, Albrecht


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 322699
Erscheinungsvermerk VLSI des. j. 10 (1999) H. 2 S. 127-141.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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