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Signature analysis for test responses of sequential circuits

Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 322699
Erscheinungsvermerk VLSI des. j. 10 (1999) H. 2 S. 127-141.
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