Signature analysis for test responses of sequential circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 322699 |
| Erscheinungsvermerk | VLSI des. j. 10 (1999) H. 2 S. 127-141. |