Test scheduling with loop folding and its application to test configurations with accumulators
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 324799 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. IEEE Asian Test Symposium, Shanghai 1999. S. 101-106. |