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Test scheduling with loop folding and its application to test configurations with accumulators

Stroele, Albrecht; Mayer, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 324799
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. IEEE Asian Test Symposium, Shanghai 1999. S. 101-106.
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