Strain determination in mismatched semiconductor heterostructures by the digital analysis of lattice images
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 326097 |
| Erscheinungsvermerk | In: Microscopy of semiconducting materials 1997. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 1997. (Conference series. Institute of Physics. 157.) |