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Strain determination in mismatched semiconductor heterostructures by the digital analysis of lattice images

Rosenauer, Andreas; Remmele, Thilo; Fischer, Uwe; Foerster, Arno; Gerthsen, Dagmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 326097
Erscheinungsvermerk In: Microscopy of semiconducting materials 1997. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 1997. (Conference series. Institute of Physics. 157.)
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