Atomic scale strain measurements by the digital analysis of transmission electron microscope lattice images

Rosenauer, Andreas; Remmele, Thilo; Gerthsen, Dagmar; Tillmann, Karsten; Foerster, Arno

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 326197
Erscheinungsvermerk	Optik 105 (1997) S. 99.