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Transmission electron microscopy investigations of an epitaxial beryllium- chalcogenide-based superlattice

Walter, Thomas; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Fischer, Fritz; Litz, Thomas; Waag, Andreas; Landwehr, Gottfried



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 326297
Erscheinungsvermerk In: Microscopy of semiconducting materials 1997. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 1997. S. 315. (Conference series. Institute of Physics. 157.)
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