Transmission electron microscopy investigations of an epitaxial beryllium- chalcogenide-based superlattice

Walter, Thomas; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Fischer, Fritz; Litz, Thomas; Waag, Andreas; Landwehr, Gottfried

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seit 14.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 326297
Erscheinungsvermerk	In: Microscopy of semiconducting materials 1997. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 1997. S. 315. (Conference series. Institute of Physics. 157.)