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Layout-driven formal verification of MOS transistor circuits

Frössl, Jürgen; Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Publikationstyp Buch
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 326394
Erscheinungsvermerk Karlsruhe : Inst. f. Rechnerentw. u. Fehlertoleranz, Univ. Karlsruhe 1994. (Tech. Rep. SFB358-C2-12/94.)
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