Signature analysis and aliasing for sequential circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 326795 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ 1995. Los Alamitos, Calif. 1995. S. 118-124. |