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Signature analysis and aliasing for sequential circuits

Stroele, Albrecht P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 326795
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ 1995. Los Alamitos, Calif. 1995. S. 118-124.
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