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Cost optimal placement of test registers

Wunderlich, Hans-Joachim; Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 327295
Erscheinungsvermerk In: 2nd ARCHIMEDES-Workshop on "Synthesis of Testable Circuits", Barcelona, Spain 1995. S. 25-29.
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