Cost optimal placement of test registers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 327295 |
| Erscheinungsvermerk | In: 2nd ARCHIMEDES-Workshop on "Synthesis of Testable Circuits", Barcelona, Spain 1995. S. 25-29. |