Depth profiles within glass samples from anodic bonding experiments with copper using SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Fakultät für Chemie – Institut für Radiochemie (Inst. f. Radiochem.) Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 32893 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Fresenius' Journal of Analytical Chemistry |
| Band | 346 |
| Seiten | 323-26 |
| Erscheinungsvermerk | Fresenius' j. of anal. chem. 346 (1993) S. 323-326. |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Sonderdrucknummer 93S115 |