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Depth profiles within glass samples from anodic bonding experiments with copper using SNMS

Goschnick, J.; Maas, D.; Schuricht, J.; Ache, Hans Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Radiochemie (Inst. f. Radiochem.)
Institut für Radiochemie (IRCH)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 32893
HGF-Programm 41.03.02; LK 01
Erschienen in Fresenius' Journal of Analytical Chemistry
Band 346
Seiten 323-26
Erscheinungsvermerk Fresenius' j. of anal. chem. 346 (1993) S. 323-326.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 93S115
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