Issues on the size and outline of killer defects and their influence on yield modeling
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 337896 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, ASMC, Boston, USA 1996. S. 423-428. |