Control of application specific interconnection on gate arrays using an active checkerboard test structure
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 338096 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS, Trento, Italy 1996. Piscataway, NJ 1996. S. 55-60. |