KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Control of application specific interconnection on gate arrays using an active checkerboard test structure

Hess, Christopher; Weiland, Larg H.; Lau, Günter; Simoneit, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 338096
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS, Trento, Italy 1996. Piscataway, NJ 1996. S. 55-60.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page