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Test response compaction using arithmetic functions

Stroele, Albrecht P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 338996
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 14th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ 1996. Los Alamitos, Calif. 1996. S. 380-386.
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