Test response compaction using arithmetic functions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 338996 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 14th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ 1996. Los Alamitos, Calif. 1996. S. 380-386. |