Arithmetic pattern generators for built-in self-test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 339096 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors, ICCD, Austin, Tex. 1996. Los Alamitos, Calif. 1996. S. 131-134. |