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Arithmetic pattern generators for built-in self-test

Stroele, Albrecht P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 339096
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors, ICCD, Austin, Tex. 1996. Los Alamitos, Calif. 1996. S. 131-134.
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