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Using the neural networks on the basis of adaptive resonance theory to quality testing in semiconductor industry

Rosenstiel, Wolfgang; Sapozhnikova; Lunin; Ludwig, Lothar



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 340599
Erscheinungsvermerk In: EANN 99, 1999.
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