Using the neural networks on the basis of adaptive resonance theory to quality testing in semiconductor industry
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 340599 |
| Erscheinungsvermerk | In: EANN 99, 1999. |