Synthesis for arithmetic built-in self-test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 34212000 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the VLSI Test Symposium 2000, Montreal, Canada 2000. S. 165-170. |