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Synthesis for arithmetic built-in self-test

Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 34212000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the VLSI Test Symposium 2000, Montreal, Canada 2000. S. 165-170.
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