Measurementsystem for the precise determination of dielectric properties in the mm-wave range based on hemispherical open resonators
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 34889 |
| Erscheinungsvermerk | Frequenz 43 (1989) S. 209-214. |