Bit serial pattern generation and response compaction using arithmetic functions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 350698 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA 1998. S. 78-84. |