Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
Publikationstyp | Buchaufsatz |
Publikationsjahr | 1998 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 350798 |
Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the IEEE Asian Test Symposium, Singapore 1998. S. 15-20. |