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Configuring arithmetic pattern generators and response compactors from the RT-modules of a circuit

Mayer, Frank; Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 350798
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the IEEE Asian Test Symposium, Singapore 1998. S. 15-20.
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