Embedded self-testing checkers for low-cost arithmetic codes
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 350898 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the IEEE International Test Conference, Washington, DC 1998. S. 514-523. |