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Embedded self-testing checkers for low-cost arithmetic codes

Tarnick, S.; Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 350898
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the IEEE International Test Conference, Washington, DC 1998. S. 514-523.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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