Harp test structure to electrically determine size distributions of killer defects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 351398 |
| Erscheinungsvermerk | IEEE trans. on semiconductor manufacturing 11 (1998) S. 194-203. |