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Untersuchungen zur Defektstruktur an hochohmigem p-CdTe

Scholz, Klaus



Zugehörige Institution(en) am KIT Kristall- und Materiallabor (KML)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 3562000
Erscheinungsvermerk Fak. f. Physik, Diss. v. 11.2.2000.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Kristall- und Materiallabor (KML)
Prüfungsdaten Diss. v. 11.2.2000
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