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High-temperature fractional collection efficiency measurements with an optical particle counter

Umhauer, Heinz; Gaeng, Peter; Peukert, Wolfgang



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 35689
Erscheinungsvermerk In: Abstracts. 4. Europaeisches Symposion Partikelmesstechnik, 1. Europaeisches Symposion Partikelabscheidung aus Gasen, Nuernberg 1989. Hrsg.: K. Leschonski. Nuernberg 1989. S. 81.
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