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Goodness-of-fit tests based on a new characterization of the exponential distribution

Henze, Norbert; Meintanis, Simos G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 3692001
Serie Preprint / Fakultät für Mathematik, Universität Karlsruhe ; 2001,21
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