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High-speed gated surface profiling with closed-loop optical coherence topography

Eix, Ilos; Zvyagin, Andrei V.; Sampson, David D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0013-5585
KITopen-ID: 3852002
Erschienen in Biomedizinische Technik
Band 47
Heft 1
Seiten 189-190
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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