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On-line-Charakterisierung von submikronen Partikeln in hochkonzentrierten Systemen mittels Mobilitätsanalyse

Katzer, Matthias; Schmidt, Eberhard; Kasper, Gerhard



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 38698
Erscheinungsvermerk Chem.-Ing.-Tech. 70 (1998) S. 115-119.
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