On-line-Charakterisierung von submikronen Partikeln in hochkonzentrierten Systemen mittels Mobilitätsanalyse
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 38698 |
| Erscheinungsvermerk | Chem.-Ing.-Tech. 70 (1998) S. 115-119. |